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    您的位置:首頁 > 產品中心 > 儀器 > 實驗室儀器 > TFE000049Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡

    產品中心
    產品名稱: Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡
    產品型號: TFE000049
    產品時間: 2025-09-18

    客服熱線:4008005586

    Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™產品系列憑借其聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征,重新定義了樣品制備和三維表征的標試方式。屬于業界Helios DualBeam系列的第四代產品,專為滿足科學家和工程師的各類分析及研究需求而設計,它將創新的Thermo Scientific Elstar ™ 電子鏡筒和Thermo

    產品介紹

    系統不僅配置進的電子和離子光學系統,還采用了一系列進的技術,可實現簡單一致的高分辨率S/TEM和原子探針斷層掃描(APT)樣品制備,以及質量的內部和三維表征,即使在挑戰性的樣品上也表現出色。Helios G4 CX DualBeam系統的技術創新結合易于使用、面的 Thermo Scientific AutoTEM ™4軟件(可選)和專業的應用知識,可快速輕松地定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。為了獲得高質量的結果,需要使用低能離子進行精拋,以大限度地減少樣品的表面損傷。Tomahawk聚焦離子束(FIB)鏡筒不僅可以在高電壓下進行高分辨率成像和刻蝕,而且具有良好的低電壓性能,可以制備高質量的TEM薄片。

     

    產品特點

    • Tomahawk離子鏡筒實現速、高質量、定位TEM和原子探針樣品制備。

    • lstar電子鏡筒以短時間獲取納米尺度信息。

    • 多達6個集成化鏡筒內及透鏡下探測器,采集優質、銳利、無荷電圖像,提供完整的樣品信息。

    • 可選AS&V4軟件,精確定位感興趣區域,獲取質量、多模態內部和三維信息。

    • 小于10nm復雜結構的快速、準確、精確刻蝕和沉積。

    • 高度靈活的110 mm樣品臺和內置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相機實現精確樣品導航。

    • 集成化樣品清潔管理和的DCFI和Thermo Scientific SmartScan ™ 等模式實現無偽影成像。

     

    參數

    電子束

    • 在工作距離下:

      − 30kV下STEM 0.6nm

      − 15kV下 0.6nm

      − 1kV下 1.0nm

      − 1kV下 電子束減速模式 0.9nm

    • 在束重合點:

      − 15kV下 0.6nm

      − 1kV下 2.5nm

    • 電子束流范圍:0.8pA–100nA

    • 加速電壓范圍:200V-30kV

    • 著陸能量范圍: 20eV-30keV

    • 大水平視場寬度:4mm工作距離下為2.3mm

    離子光學

    • 大束流Tomahawk離子鏡筒

    • 離子束流范圍:0.1pA–65nA

    • 加速電壓范圍:500 V-30kV

    • 兩級差分抽吸

    • 飛行時間(TOF)校準

    • 15 孔光闌

    • 大水平視場寬度:在束重合點出為0.9mm

    • 離子源壽命至少1,000小時

    • 離子束分辨率(在重合點處):

     − 30kV下 4.0nm(采用統計方法)

     − 30kV下 2.5nm(采用選邊法)

    探測器

    • Elstar 透鏡內SE/BSE 探測系統(TLD-SE、TLD-BSE)

    • Elstar 鏡筒內SE/BSE 探測系統(ICD)

    • Elstar 鏡筒內BSE 探測系統(MD)

    • ETD–Everhart-Thornley 二次電子探測器

    • 樣品室紅外CCD相機,用于樣品臺高度觀察

    • ICE探測器-高性能離子轉換和電子探測器,用于采集二次電子和二次離子

    • Nav-Cam ™ : 樣品室內彩色光學相機,用于樣品導航

    • DBS–可伸縮式低電壓、高襯度、固態背散射電子探測器

    • STEM 3+ – 可伸縮分割式探測器(BF、DF、HAADF)

    • 集成電子束流測量

    樣品臺和樣品

    • 靈活五軸電動樣品臺:

     -XY范圍:110mm

     - Z范圍:65mm

    • 旋轉:360°(連續)

    • 傾斜范圍:-15°到 +90°

    • XY重復精度:3μm

    • 大樣品高度:與優中心點間隔85mm

    • 大樣品質量(0°傾斜):2kg(包括樣品托)

    • 大樣品尺寸:可沿X、Y軸*旋轉時直徑為110mm(若樣品超出此限值,則樣品臺行程和旋轉會受限)

    • 同心旋轉和傾斜真空系統

    • *無油的真空系統

    • 樣品倉真空(高真空):< 2.6 x 10 -6 mbar(24小時抽氣后),抽氣時間:< 5 分鐘樣品倉

    • 電子束和離子束重合點在分析工作距離處(SEM 4mm)

    • 端口:21個

    • 內寬:379mm

    • 集成等離子清洗

    產品料號產品貨號*產品名稱*產品規格
    TFE000049TFE000049Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡 Helios G4 CX DualBeam

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